3D time-of-flight distance measurement with custom solid-state image sensors in CMOS, CCD technology: = 3D-Distanzmessung nach dem "time-of-flight"-Verfahren mit kundenspezifischen Halbleiterbildsensoren in CMOS, CCD Technologie
2000
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Monographie, Hochschulschrift, Elektronische Ressource
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Titel: |
3D time-of-flight distance measurement with custom solid-state image sensors in CMOS, CCD technology: = 3D-Distanzmessung nach dem "time-of-flight"-Verfahren mit kundenspezifischen Halbleiterbildsensoren in CMOS, CCD Technologie
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Verantwortlichkeitsangabe: | presented by Robert Lange |
Autor/in / Beteiligte Person: | Lange, Robert (1972-) |
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Veröffentlichung: | 2000 |
Medientyp: | Monographie, Hochschulschrift |
Datenträgertyp: | Elektronische Ressource |
Sonstiges: |
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