Optimization and application of Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) for the detection of nanomaterials in tissue thin sections: = Optimierung und Anwendung der Flugzeitsekundärionenmassenspektrometrie für die Detektion von Nanomaterialien in Gewebeschnitten
Siegen, 2018
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Monographie, Hochschulschrift, Elektronische Ressource
- 1 Online-Ressource (VIII, 170 Seiten)
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Optimization and application of Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) for the detection of nanomaterials in tissue thin sections: = Optimierung und Anwendung der Flugzeitsekundärionenmassenspektrometrie für die Detektion von Nanomaterialien in Gewebeschnitten
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Verantwortlichkeitsangabe: | vorgelegt von Lothar Veith (M. Sc.) ; Betreuer und erster Gutachter: Prof. Dr. Carsten Engelhard, Universität Siegen |
Autor/in / Beteiligte Person: | Veith, Lothar ; Engelhard, Carsten (1977-) |
Körperschaft: | Universität Siegen |
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Verwandtes Werk: | |
Veröffentlichung: | Siegen, 2018 |
Medientyp: | Monographie, Hochschulschrift |
Datenträgertyp: | Elektronische Ressource |
Umfang: | 1 Online-Ressource (VIII, 170 Seiten) |
Sonstiges: |
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