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Nanomechanics: Mechanical response analysis of semiconductor GaAs nanowires by using finite element method and x-ray diffraction techniques: = Nanomechanik: Mechanische Response-Analyse von Halbleiter-GaAs-Nanodrähten mit der Finite-Elemente-Methode und Röntgendiffraktionstechnik

vorgelegt von M.Sc. Taseer Anjum ; Gutachter: Prof. Dr. Christian Gutt, Universität Siegen

Siegen, 2021

Online Monographie, Hochschulschrift, Elektronische Ressource - Online-Ressource (122 Seiten)

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Titel:	Nanomechanics: Mechanical response analysis of semiconductor GaAs nanowires by using finite element method and x-ray diffraction techniques: = Nanomechanik: Mechanische Response-Analyse von Halbleiter-GaAs-Nanodrähten mit der Finite-Elemente-Methode und Röntgendiffraktionstechnik
Verantwortlichkeitsangabe:	vorgelegt von M.Sc. Taseer Anjum ; Gutachter: Prof. Dr. Christian Gutt, Universität Siegen
Autor/in / Beteiligte Person:	Anjum, Taseer ; Gutt, Christian (1971-)
Körperschaft:	Universität Siegen
Lokaler Link:	Volltext [kostenfrei] Volltext [kostenfrei]
Link:	Verlag - Volltext (Open Access) Langzeitarchivierung Nationalbibliothek - Volltext (Open Access)
Verwandtes Werk:	Erscheint auch als: Druck-Ausgabe: Anjum, Taseer: Nanomechanics: Mechanical response analysis of semiconductor GaAs nanowires by using finite element method and x-ray diffraction techniques
Veröffentlichung:	Siegen, 2021
Medientyp:	Monographie, Hochschulschrift
Datenträgertyp:	Elektronische Ressource
Umfang:	Online-Ressource (122 Seiten)
DOI:	10.25819/ubsi/9903
Sonstiges:	Online-Ressource [Kann nicht per Fernleihe bestellt werden!] Zusammenfassung auf Deutsch Universität Siegen Dissertation, 2021 Lokale Notationen: UIQO; UIOS; UIUD; ZZZB Fächer: Physik hbz Verbund-ID: HT020922147

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Nanomechanics: Mechanical response analysis of semiconductor GaAs nanowires by using finite element method and x-ray diffraction techniques: = Nanomechanik: Mechanische Response-Analyse von Halbleiter-GaAs-Nanodrähten mit der Finite-Elemente-Methode und Röntgendiffraktionstechnik